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本文目录导读：

1. 实验目的
2. 实验原理
3. 实验步骤

常用电子元器件参数测量

实验目的

本实验旨在通过实践操作，掌握常用电子元器件参数的测量方法，了解元器件的基本性能参数，为后续的电路设计与维护提供基础。

实验原理

通过对电子元器件的基本参数进行测量，如电阻、电容、电感、二极管、晶体管等，可以了解元器件的性能特点，判断其是否满足设计要求，测量参数的方法主要依赖于电桥、示波器、万用表等测试设备。

实验步骤

1、电阻测量：使用万用表电阻档，对固定电阻、电位器等进行测量。

2、电容测量：使用电容测试仪或万用表电容档，对各类电容进行测量。

3、电感测量：使用电感测试仪或Q表对电感进行测量。

4、二极管测量：通过万用表二极管档或示波器，检测二极管的正向压降和反向电阻。

5、晶体管测量：使用晶体管测试仪或万用表，测量晶体管的放大倍数、集电极耗散比等参数。

1、电阻测量数据记录

2、电容测量数据记录

3、电感测量数据记录

4、二极管测量数据记录

5、晶体管测量数据记录（以NPN型为例）

| 元件编号 | β值（放大倍数）| 集电极耗散比（Ic/Ie）| 误差范围 |

| --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | D3 | ... | ... | ... ｜......｜以此类推。｜注意：实际测量中，应根据具体元器件类型选择合适的测试方法和参数。｜实验完成后，根据测量结果分析元器件性能特点，判断其是否满足设计要求。｜五、实验总结｜通过本次实验，我们掌握了常用电子元器件参数的测量方法，了解了元器件的基本性能参数，在实验过程中，我们发现部分元器件存在误差，这可能是由于元器件本身的制造误差或测试过程中的误差导致的，在实际应用中需要根据具体电路的要求选择合适的元器件，并对其进行严格的筛选和测试，我们还需了解元器件的性能特点和使用环境对其性能的影响，以确保电路的稳定性和可靠性，本次实验为我们后续的电路设计与维护提供了宝贵的实践经验，六、参考文献（根据实际实验过程中参考的文献进行填写）注意：在实际撰写实验报告时，还需注意格式规范，包括标题、关键词、正文、参考文献等部分，数据记录要准确、完整，分析要深入、透彻。